JEM 6855.T [JP]

JEM（6855.T） · JP 在 2 個供應鏈節點被引用，跨 2 個主題：先進製程、晶片測試。

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先進製程 — 先進製程（2nm GAA）供應鏈

測試 ATE / 探針卡 市佔／地位：探針卡前三/socket/CP載板
測試介面利基群，JEM 記憶體探針卡全球領先(與 FormFactor/Technoprobe 合計 ~60%)、穎崴供 AI/HPC 高頻 test socket、雍智供 CP 測試載板，供先進封裝/HBM 測試段

晶片測試 — AI 晶片測試供應鏈 (Semiconductor Test & ATE)

探針卡（晶圓測試） 市佔／地位：日系探針卡
記憶體+SoC 探針卡